期刊論文
學年 | 94 |
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學期 | 2 |
出版(發表)日期 | 2006-06-01 |
作品名稱 | Variation of Electronic Structures of CeAl2 Thin Films with Thickness Studied by X-Ray Absorption Near-Edge Structure Spectroscopy |
作品名稱(其他語言) | |
著者 | Dong, C. L.; Asokan, K.; 張經霖; Chang, C. L.; Chen, C. L.; Lee, P. C.; Chen, Y. Y.; Lee, J. F.; Guo, J. H. |
單位 | 淡江大學物理學系 |
出版者 | Elsevier |
著錄名稱、卷期、頁數 | Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 152(1-2), pp.1-5 |
摘要 | |
關鍵字 | |
語言 | en |
ISSN | 0368-2048 |
期刊性質 | 國外 |
收錄於 | |
產學合作 | |
通訊作者 | |
審稿制度 | 否 |
國別 | NLD |
公開徵稿 | |
出版型式 | ,電子版 |
相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/27580 ) |